Bashir al hashimi (117 Ergebnisse)
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- Hardcover
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Zustand: Used. pp. 220.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 11 von 40. Buch 11 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Verlag: The Institution of Electrical Engineers, London, 2006
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Zustand: Used. pp. 220 Illus.
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Zustand: Used. pp. 220.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 11 von 40. Buch 11 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
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Zustand: New.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 11 von 40. Buch 11 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 11 von 40. Buch 11 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 11 von 40. Buch 11 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 11 von 40. Buch 11 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2006
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Zustand: New. Addresses the development and validation of co-synthesis techniques that allow an effective design of embedded systems with low energy dissipation. This book provides an overview of a system-level co-design flow, illustrating how system performance is influenced at various steps of the flow including allocation, ma…pping, and scheduling. Num Pages: 194 pages, biography. BIC Classification: TJFD1. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 235 x 155 x 14. Weight in Grams: 1080. . 2003. Hardback. . . . .
Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Nicolici, Nicola (McMaster University, Hamilton, Ontario, Canada); Al-Hashimi, Bashir M.
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 11 von 40. Buch 11 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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EUR 132,90
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Zustand: New. Focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. This text surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths.… Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 189 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 297 x 210 x 12. Weight in Grams: 990. . 2003. Hardback. . . . .
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 11 von 40. Buch 11 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: Books Puddle, New York, NY, USABooks Puddle
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Zustand: New. pp. 192.
- Softcover
Anbieter: Books Puddle, New York, NY, USABooks Puddle
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Zustand: New. pp. 214.
Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2019
Serie: Computing and Networks, Buch 9 von 16. Buch 9 von 16 - Computing and Networks
- Hardcover
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EUR 2,31 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.
Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2019
Serie: Computing and Networks, Buch 9 von 16. Buch 9 von 16 - Computing and Networks
- Hardcover
Anbieter: California Books, Miami, FL, USACalifornia Books
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Zustand: New.
Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2019
Serie: Computing and Networks, Buch 9 von 16. Buch 9 von 16 - Computing and Networks
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
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EUR 148,80
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Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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EUR 142,80
EUR 13,91 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2006
- Hardcover
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Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2006
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