Clarebrough l m (12 Ergebnisse)

Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
A K Head, P Humble, L M Clarebrough, A J Morton and C T Forwood
- Hardcover
Anbieter: MB Books, Derbyshire, Vereinigtes KönigreichMB Books
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Sprache: Englisch
Verlag: Adam Hilger, Bristol, 1991
Serie: Buch 4 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
- Hardcover
Anbieter: Der Buchfreund, Wien, ÖsterreichDer Buchfreund
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Original-Pappband. Zustand: Sehr gut. gr8 Original-Pappband en Mikroskopie, Naturwissenschaften, Physik (Electron Microscopy in Materials Science Series); X pp., 424 pp.

Sprache: Englisch
Verlag: Adam Hilger, 1991
Serie: Buch 4 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
- Hardcover
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes KönigreichMispah books
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Electron Microscopy of Interfaces in Metals and Alloys
C.T Forwood (CSIRO Manufacturing Science and Technology, Australia)|L.M Clarebrough
Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press, 1991
Serie: Buch 4 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
- Hardcover
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Zustand: New. C.T Forwood (CSIRO Manufacturing Science and Technology, Australia)Electron Microscopy of Interfaces in Metals and Alloys examines the structure of interfaces in metals and alloys using transmission electron microscopy. The book presents quantitative me.

Sprache: Englisch
Verlag: Adam Hilger, 1991
Serie: Buch 4 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
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Sprache: Englisch
Verlag: Adam Hilger, 1991
Serie: Buch 4 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Adam Hilger, 1991
Serie: Buch 4 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Adam Hilger, 1991
Serie: Buch 4 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Taylor & Francis Group, 1991
Serie: Buch 4 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Taylor & Francis Group, 1991
Serie: Buch 4 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
- Hardcover
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Computed electron micrographs and defect identification.
Head, A. K., P. Humble, L. M. Clarebrough, A. J. Morton and C. T. Forwood.
Verlag: Amsterdam, North-Holland Publ. Comp. 1973., 1973
- Hardcover
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In den WarenkorbIn Englisch. gr.-8°, 400 S., mit zahlr. Textabb., OLn. m. Klarsichtfolien-Überzug, guter Zustand, ausgeschied. Bibl.-Expl. mit den üblichen Kennzeichnungen. ISBN 0-720417570.

Sprache: Englisch
Verlag: Taylor & Francis Group, 1991
Serie: Buch 4 von 5 - Series in Microscopy in Materials Science
- Hardcover
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