Dasgupta sudeb (69 Ergebnisse)
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Verlag: Springer, 2022
Serie: Buch 495 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Serie: Buch 495 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Verlag: Springer, 2022
Serie: Buch 495 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Vlsi Design and Test : 21st International Symposium, Vdat 2017, Roorkee, India, June 29-july 2, 2017, Revised Selected Papers
Kaushik, Brajesh Kumar (EDT); Dasgupta, Sudeb (EDT); Singh, Virendra (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2017
Serie: Buch 199 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Vlsi Design and Test : 23rd International Symposium, Vdat 2019, Indore, India, July 4?6, 2019, Revised Selected Papers
Sengupta, Anirban (EDT); Dasgupta, Sudeb (EDT); Singh, Virendra (EDT); Sharma, Rohit (EDT); Vishvakarma, Santosh Kumar (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2019
Serie: Buch 284 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Verlag: Springer Nature Singapore, 2019
Serie: Buch 284 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 792 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.…
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Nature Singapore, 2019
Serie: Buch 284 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 792 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.…
Vlsi Design and Test : 21st International Symposium, Vdat 2017, Roorkee, India, June 29-july 2, 2017, Revised Selected Papers
Kaushik, Brajesh Kumar (EDT); Dasgupta, Sudeb (EDT); Singh, Virendra (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2017
Serie: Buch 199 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - This book focusses on the spacer engineering aspects of novel MOS-based device-circuit co-design in sub-20nm technology node, its process complexity, variability, and reliability issues. It comprehensively explores the FinFET/tri-gate architectures with their circuit/SRAM suitability and tolerance to random statistical variations.…
Vlsi Design and Test : 23rd International Symposium, Vdat 2019, Indore, India, July 4?6, 2019, Revised Selected Papers
Sengupta, Anirban (EDT); Dasgupta, Sudeb (EDT); Singh, Virendra (EDT); Sharma, Rohit (EDT); Vishvakarma, Santosh Kumar (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2019
Serie: Buch 284 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Verlag: Springer, 2022
Serie: Buch 495 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2022
Serie: Buch 495 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2022
Serie: Buch 495 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2017
Serie: Buch 199 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Serie: Buch 284 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Verlag: Springer, 2019
Serie: Buch 284 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Verlag: Springer, 2022
Serie: Buch 495 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the proceedings of the 26th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2022, which took place in Jammu, India, in July 2022.The 32 regular papers and 16 short papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 220 submissions. They were organized in topical sections as follows: Devices and Technology; Sensors; Analog/Mixed Signal; Digital Design; Emerging Technologies and Memory; System Design.…
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Verlag: Springer, 2022
Serie: Buch 495 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Taschenbuch. Zustand: Neu. VLSI Design and Test | 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers | Ambika Prasad Shah (u. a.) | Taschenbuch | Communications in Computer and Information Science | xviii | Englisch | 2022 | Springer | EAN 9783031215131 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2022
Serie: Buch 495 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2017
Serie: Buch 199 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.…
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Verlag: Springer, 2019
Serie: Buch 284 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Taschenbuch. Zustand: Neu. VLSI Design and Test | 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers | Anirban Sengupta (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9789813297661 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …
