Eckman d p (42 Ergebnisse)
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Hope & Destiny: The Patient and Parent's Guide to Sickle Cell Disease and Sickle Cell Trait
Platt Jr. P.A.-C. M.M.Sc., Allan F.; Eckman M.D., James; Hsu M.D. Ph.D, Lewis
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Hope and Destiny: The Patient and Parent's Guide to Sickle Cell Disease and Sickle Cell Trait
Platt Jr. P. a. -C M. M. Sc, Allan F.; Eckman M. D., James; Hsu M. D. Ph. D., Lewis
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Hope and Destiny: The Patient and Parent's Guide to Sickle Cell Disease and Sickle Cell Trait
Platt Jr. P. a. -C M. M. Sc, Allan F.; Eckman M. D., James; Hsu M. D. Ph. D., Lewis
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Hope & Destiny: The Patient and Parent's Guide to Sickle Cell Disease and Sickle Cell Trait
Platt Jr. P.A.-C. M.M.Sc., Allan F.; Eckman M.D., James; Hsu M.D. Ph.D, Lewis
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Sprache: Englisch
Verlag: Storey Publishing, LLC, 2016
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Sprache: Englisch
Verlag: Storey Publishing, LLC, 2016
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Verlag: John Wiley & Sons, NY, 1945
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Sprache: Englisch
Verlag: Storey Publishing, LLC, 2016
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Verlag: Storey Publishing, LLC, 2016
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Verlag: John Wiley and Sons, 1961
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Verlag: John Wiley and Sons, 1962
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Verlag: John Wiley and Sons, 1946
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Hope & Destiny: The Patient and Parent's Guide to Sickle Cell Disease and Sickle Cell Trait
Platt Jr. P.A.-C. M.M.Sc., Allan F.; Eckman M.D., James; Hsu M.D. Ph.D, Lewis
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Verlag: Dunod, Paris, 1963
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In den WarenkorbVolume: 1 24x15,5 cm., legatura in piena tela con titoli in oro su tassello al piatto e al dorso, sovraccoperta, pagg.VI+396+ 8 pagine pubblicità, in francese, buone condizioni. Eckman, professeur des Techniques de l'instrumentation au Case Institute of Technology-Avec la collaboration technique de P. Naslin.…
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Hardback. Zustand: Good. An edited volume for an upcoming conference on Total Survey Error (TSE), this book provides an overview of the TSE framework and current TSE research as related to survey design, data collection, estimation and analysis.
Total Survey Error in Practice
Biemer, Paul P. (EDT); De Leeuw, Edith (EDT); Eckman, Stephanie (EDT); Edwards, Brad (EDT); Kreuter, Frauke (EDT)
- Hardcover
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Total Survey Error in Practice
Biemer, Paul P. (EDT); De Leeuw, Edith (EDT); Eckman, Stephanie (EDT); Edwards, Brad (EDT); Kreuter, Frauke (EDT)
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 396 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
Total Survey Error in Practice
Biemer, Paul P. (EDT); De Leeuw, Edith (EDT); Eckman, Stephanie (EDT); Edwards, Brad (EDT); Kreuter, Frauke (EDT)
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
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Zustand: New.
- Hardcover
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Hardback. Zustand: Good. An edited volume for an upcoming conference on Total Survey Error (TSE), this book provides an overview of the TSE framework and current TSE research as related to survey design, data collection, estimation and analysis.
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Zustand: New.
Total Survey Error in Practice
Biemer, Paul P. (EDT); De Leeuw, Edith (EDT); Eckman, Stephanie (EDT); Edwards, Brad (EDT); Kreuter, Frauke (EDT)
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- Hardcover
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Zustand: New. An edited volume for an upcoming conference on Total Survey Error (TSE), this book provides an overview of the TSE framework and current TSE research as related to survey design, data collection, estimation and analysis. Editor(s): Biemer, Paul P.; Leeuw, Edith Desiree de; Edwards, Brad; Kreuter, Frauke; Lyberg, Lars E.; West, Brady T.; Tucker, N. Clyde; Eckman, Stephanie. Series: Wiley Series in Survey Methodology. Num Pages: 624 pages. BIC Classification: GPS; PBW. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 260 x 179 x 35. Weight in Grams: 1246. . 2017. 1st Edition. Hardcover. . . . . …
