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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 94,89
EUR 3,43 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 86,46
EUR 13,57 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 86,69
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials: With numerous exercises
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Befriedigend. 778 Seiten; 9783540738855.4 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials: With numerous exercises
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Gut. 778 Seiten; 9783540738855.3 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Befriedigend. 767 Seiten; 9783540678410.4 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Gut. 767 Seiten; 9783540678410.3 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials.
Verlag: Springer, 2007
Sprache: Englisch
Anbieter: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
SonderangebotEUR 21,84
EUR 105,00 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Wie neu. 778 S., Like new. Shrink wrapped. / Wie neu. In Folie verschweißt. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1355 3rd corrected Ed. 2008, corr. 2nd printing 2009.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 121,46
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Anbieter: brandnewtexts4sale, Houston, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: New. 3rd Edition. 100% BRAND NEW US HARDCOVER STUDENT 3rd Edition / shrink wrapped / Mint condition / ISBN-10: 3540738851 / Shipped out in one business day with free tracking.
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![Beispielbild für Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. zum Verkauf von BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer](https://pictures.abebooks.com/isbn/9783540738855-de-300.jpg)
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
Verlag: Springer Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009, 2008
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
Sprache: Englisch
Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Deutschland
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Hardcover. Zustand: gut. This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. In englischer Sprache. 758 pages. 3,3 x 16 x 23,3 cm Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 127,14
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 191,29
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Anbieter: Solr Books, Lincolnwood, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsVerlag: Springer Berlin Heidelberg, 2014
ISBN 10: 3642433154 ISBN 13: 9783642433153
Sprache: Englisch
EUR 77,17
EUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. New edition of successful, well-reviewed textbook Provides an integrated coverage of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry Shows how wave radiation probes the structure of materials Supports learning and teaching .
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsVerlag: Springer Berlin Heidelberg, 2012
ISBN 10: 3642297609 ISBN 13: 9783642297601
Sprache: Englisch
EUR 107,09
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