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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing)
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. 150 pp., Hardcover, ex library else text clean and binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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From Contamination To Defects, Faults And Yield Loss
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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From Contamination To Defects, Faults And Yield Loss
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Basi6 International, Irving, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing, 5)
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing)
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing, 5)
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 130,63
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,63
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This has been mainly achieved by a continuous drive towards smaller feature sizes, larger dies, and better packing efficiency. However, this greater functionality has also resulted in substantial increases in the capital investment needed to build fabrication facilities. Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield. Modern VLSI research and engineering (which includes design manufacturing and testing) encompasses a very broad range of disciplines such as chemistry, physics, material science, circuit design, mathematics and computer science. Due to this diversity, the VLSI arena has become fractured into a number of separate sub-domains with little or no interaction between them. This is the case with the relationships between testing and manufacturing. From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications focuses on the core of the interface between manufacturing and testing, i.e., the contamination-defect-fault relationship. The understanding of this relationship can lead to better solutions of many manufacturing and testing problems. Failure mechanism models are developed and presented which can be used to accurately estimate probability of different failures for a given IC. This information is critical in solving key yield-related applications such as failure analysis, fault modeling and design manufacturing.
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 125,21
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingSprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1996
ISBN 10: 0792397142 ISBN 13: 9780792397144
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. States that over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This book focuses on the core of the interface between manufacturing and testing, ie, the contamination-defect-fault relationship. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 166 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 930. . 1996. Hardback. . . . .
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingSprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1996
ISBN 10: 0792397142 ISBN 13: 9780792397144
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. States that over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This book focuses on the core of the interface between manufacturing and testing, ie, the contamination-defect-fault relationship. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 166 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 930. . 1996. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing (5))
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 164,72
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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From Contamination to defects, faults and yield Loss. Simulation and Applications
Anbieter: Celler Versandantiquariat, Eicklingen, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Kluwer Academic Publishers, Boston, 1996. 150 pages, Paperback--- - former library book in good condition - 468 Gramm.
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss (eng)
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italien
Verkäuferbewertung 3 von 5 Sternen
EUR 86,24
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingEUR 92,27
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This has been mainly achieved by a continuous drive towards smaller feature sizes, larger dies, and better packing efficiency. However, this gre.
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingEUR 92,27
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 147,13
EUR 7,53 Versand
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In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand pp. 172 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Buch 28 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 172.
