Massimo vanzi (13 Ergebnisse)
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Advanced Laser Diode Reliability
Vanzi, Massimo (EDT); Bechou, Laurent (EDT); Fukuda, Mitsuo (EDT); Mura, Giovanna (EDT)
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Advanced Laser Diode Reliability
Vanzi, Massimo (EDT); Bechou, Laurent (EDT); Fukuda, Mitsuo (EDT); Mura, Giovanna (EDT)
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Advanced Laser Diode Reliability
Vanzi, Massimo (EDT); Bechou, Laurent (EDT); Fukuda, Mitsuo (EDT); Mura, Giovanna (EDT)
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Advanced Laser Diode Reliability (Durability, Robustness and Reliability of Photonic Devices)
Vanzi, Massimo; Bechou, Laurent; Fukuda, Mitsuo; Mura, Giovanna
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Advanced Laser Diode Reliability
Vanzi, Massimo (EDT); Bechou, Laurent (EDT); Fukuda, Mitsuo (EDT); Mura, Giovanna (EDT)
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Advanced Laser Diode Reliability
Bechou, Laurent/ Fukuda, Mitsuo/ Mura, Giovanna/ Vanzi, Massimo (Editor)
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Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Advanced Laser Diode Reliability focuses on causes and effects of degradations of state-of-the-art semiconductor laser diodes. It aims to provide a tool for linking practical measurements to physical diagnostics. To this purpose, it reviews…the current technologies, addressing their peculiar details that can promote specific failure mechanisms. Two sections will support this kernel: a) Failure Analysis techniques, procedures and examples; b) Device-oriented laser modelling and parameter extraction. Englisch.
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Verlag: Elsevier Science & Technology, ISTE Press - Elsevier 2021
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Buch. Zustand: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Advanced Laser Diode Reliability focuses on causes and effects of degradations of state-of-the-art semiconductor laser diodes. It aims to provide a tool for linking practical measurements to physical diagnostics. To this purpose, it reviews the c…urrent technologies, addressing their peculiar details that can promote specific failure mechanisms. Two sections will support this kernel: a) Failure Analysis techniques, procedures and examples; b) Device-oriented laser modelling and parameter extraction.
