Gesamtpreis (1 Artikel Artikel):
Versandziel:
nellist peter (12 Ergebnisse)
Direkt zu den wichtigsten Suchergebnissen
Suchfilter
Produktart
- Alle Product Types
- Bücher (12)
- Magazine & Zeitschriften (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Comics (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Noten (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Kunst, Grafik & Poster (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Fotografien (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Karten (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Manuskripte & Papierantiquitäten (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
Zustand Mehr dazu
- Neu (10)
- Wie Neu, Sehr Gut oder Gut Bis Sehr Gut (2)
- Gut oder Befriedigend (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Ausreichend oder Schlecht (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Wie beschrieben (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
Einband
Weitere Eigenschaften
- Erstausgabe (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Signiert (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Schutzumschlag (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Angebotsfoto (6)
- Keine Print-on-Demand Angebote (9)
Sprache (1)
Preis
- Beliebiger Preis
- Weniger als EUR 20 (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- EUR 20 bis EUR 45 (Keine weiteren Ergebnisse entsprechen dieser Verfeinerung)
- Mehr als EUR 45
Gratisversand
Land des Verkäufers
Verkäuferbewertung
-
Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analysis
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 203,69
EUR 14,05 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
-
Scanning Transmission Electron Microscopy
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New.
-
Scanning Transmission Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer-Verlag New York Inc., US, 2011
ISBN 10: 1441971998 ISBN 13: 9781441971999
Anbieter: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 262,22
Versand gratis
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbHardback. Zustand: New. 2011 ed.
-
Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analysis
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New.
-
Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analysis
Anbieter: Rarewaves.com UK, London, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 248,51
EUR 76,26 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: New. 2011th.
-
Scanning Transmission Electron Microscopy : Imaging and Analysis
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning transmission electron microscopy has become a mainstream technique for imaging and analysis at atomic resolution and sensitivity, and the authors of this book are widely credited with bringing the field to its present popularity. Scanning Transmission Electron Microscopy(STEM): Imaging and Analysis will provide a comprehensive explanation of the theory and practice of STEM from introductory to advanced levels, covering the instrument, image formation and scattering theory, and definition and measurement of resolution for both imaging and analysis.The authors willpresent examples of the use of combined imaging and spectroscopy for solving materials problems in a variety of fields, including condensed matter physics, materials science, catalysis, biology, and nanoscience. Therefore this will bea comprehensive reference for those working in applied fields wishing to use the technique, for graduate students learning microscopy for the first time, and for specialists in other fields of microscopy.
-
Scanning Transmission Electron Microscopy
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 401,00
EUR 23,46 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 774 pages. 10.10x7.20x1.60 inches. In Stock.
-
Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analysis
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 422,93
EUR 29,33 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
-
Scanning Transmission Electron Microscopy
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
-
EUR 223,97
EUR 48,99 Versand
Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. - Provides the first comprehensive treatment of the physics and applications of this mainstream technique for imaging and analysis at the atomic level - Presents applications of STEM in condensed matter physics, materials science, catalysis, and n.
-
Scanning Transmission Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Humana Mär 2011, 2011
ISBN 10: 1441971998 ISBN 13: 9781441971999
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning transmission electron microscopy has become a mainstream technique for imaging and analysis at atomic resolution and sensitivity, and the authors of this book are widely credited with bringing the field to its present popularity. Scanning Transmission Electron Microscopy(STEM): Imaging and Analysis will provide a comprehensive explanation of the theory and practice of STEM from introductory to advanced levels, covering the instrument, image formation and scattering theory, and definition and measurement of resolution for both imaging and analysis.The authors willpresent examples of the use of combined imaging and spectroscopy for solving materials problems in a variety of fields, including condensed matter physics, materials science, catalysis, biology, and nanoscience. Therefore this will bea comprehensive reference for those working in applied fields wishing to use the technique, for graduate students learning microscopy for the first time, and for specialists in other fields of microscopy. 776 pp. Englisch.
-
Scanning Transmission Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Humana Mär 2011, 2011
ISBN 10: 1441971998 ISBN 13: 9781441971999
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Electron Optics and Aberration Correction.- Fundamentals of Scattering Theory.- Image formation in STEM.- Electron energy loss spectroscopy.- Energy dispersive x-ray analysis.- STEM of complex oxides.- STEM of complex alloys.- STEM of catalysts.- STEM of semiconductor devices.- STEM of ceramic materials.- STEM of quasicrystals.- STEM of nanomaterials.- 3D STEM: tomography.- 3D STEM: depth slicing.- Nanobeam diffraction.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 776 pp. Englisch.
