Paul k predecki (94 Ergebnisse)
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 29
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden, John C. Russ & John Faber, Jr., & Ron Jenkins, Editors
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 31
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden, John C. Russ & Ron Jenkins & John V. Gilfrich,, Editors
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 30
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden, John C. Russ & Ron Jenkins & John V. Gilfrich,, Editors
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Hardcover. Zustand: Very Good. Hardcover; Volume 29 only; proceedings of the 34th annual conference on App lications of X-Ray Analysis, held August 5-9, 1985, in Snowmass, Colorado; light fading and shelf wear to exterior; light stain at top page corners; f ade spots to endpapers; in very good condition with clean text, firm bin…din g. Dust jacket shows scuffing, light soiling, and a few small edge tears.
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 27
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden & John C. Russ & Jerome B. Cohen, Editors
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 33rd Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 30-August 3. 1984. on the campus of the University of Denver. Following the recent tradition of alternating plenary lecture topics between X-ray diffraction and X-ray f…luorescence at the confer ence. the plenary sessions dealt with topics of X-ray fluorescence. Prof. H. Aiginger presented a plenary lect~re on TOTAL REFLECTANCE X-RAY SPECTROMETRY which admirably described this relatively new technique. J. C. Russ discussed XRF AND OTHER SURFACE ANALYTICAL TECHNIQUES which gave an excellent overview of the role XRF plays in a modern analytical laboratory. J. E. Taggart. Jr. described THE ROLE OF XRF IN A MODERN GEOCHEMICAL LABORATORY and presented many case histories of the configura tion of analytical equipment in several geochemical laboratories. The plenary lectures demonstrated both the dynamic nature of research in X-ray fluorescence. and the important role X-ray spectrom etry plays in the arsenal of analytical methods found in modern labora tories. Total reflectance X-ray spectrometry takes advantage of con sideration of the geometry of the X-ray optics. Potentially. new sample types may be considered as X-ray fluorescence specimens using this technique.
