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MOS Interface Physics, Process and Characterization 1st Edition
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MOS Interface Physics, Process and Characterization
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MOS Interface Physics, Process and Characterization 1st Edition
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Shengkai Wang is a professor in the Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences. He received Ph.D. from the University of Tokyo in 2011 and has been engaged in Ge, III-V, SiC in MOS technology. He has published more than 1.
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