Stapper c h (27 Ergebnisse)
- Hardcover
- Erstausgabe
Anbieter: Rivermead Books, Southampton., Vereinigtes KönigreichRivermead Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 1 SternenZustand: Gebraucht - Gut
EUR 7,21
EUR 24,51 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Hard Cover. Zustand: Very Good. No Jacket. First Edition. VG, hardback, maroon glazed board covers with white titles on spine turning purple, contents are clean and unmarked,large octavo 316pp. Ex-Admiralty Underwater Weapons Library. weight 750g. Ex-Library.
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 165,70
EUR 13,98 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 165,70
EUR 13,98 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 180,46
EUR 2,32 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.
- Hardcover
Anbieter: California Books, Miami, FL, USACalifornia Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 182,86
Versand nach gratisVersand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 165,68
EUR 17,51 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Wie neu
EUR 181,77
EUR 2,32 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Wie neu
EUR 183,19
EUR 17,51 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
- Hardcover
Anbieter: Books Puddle, New York, NY, USABooks Puddle
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 216,82
EUR 3,51 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 4 verfügbar
Zustand: New. pp. 336.
- Softcover
Anbieter: Books Puddle, New York, NY, USABooks Puddle
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 217,40
EUR 3,51 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 4 verfügbar
Zustand: New. pp. 332.
Weitere Bilder- Softcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 141,20
EUR 70,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 5 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems | Volume 2 | C. H. Stapper (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2013 | Humana | EAN 9781475799590 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
- Softcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 168,73
EUR 63,13 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI systems. The goals… of defect-tolerance and fault-tolerance are yield enhancement and improved reliahility. The emphasis on this area has resulted in a new field of interdisciplinary scientific research. I n fact, advanced methods of defect/fault control and tolerance are resulting in enhanced manufacturahility and productivity of integrated circuit chips, VI.SI systems, and wafer scale integrated circuits. In 1987, Dr. W. Moore organized an 'International Workshop on Designing for Yield' at Oxford University. Edited papers of that workshop were published in reference [II. The participants in that workshop agreed that meetings of this type should he con tinued. preferahly on a yearly hasis. It was Dr. I. Koren who organized the 'IEEE Inter national Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems' in Springfield Massachusetts the next year. Selected papers from that workshop were puhlished as the first volume of this series [21.
- Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 168,73
EUR 63,34 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI systems. The goals of def…ect-tolerance and fault-tolerance are yield enhancement and improved reliahility. The emphasis on this area has resulted in a new field of interdisciplinary scientific research. I n fact, advanced methods of defect/fault control and tolerance are resulting in enhanced manufacturahility and productivity of integrated circuit chips, VI.SI systems, and wafer scale integrated circuits. In 1987, Dr. W. Moore organized an 'International Workshop on Designing for Yield' at Oxford University. Edited papers of that workshop were published in reference [II. The participants in that workshop agreed that meetings of this type should he con tinued. preferahly on a yearly hasis. It was Dr. I. Koren who organized the 'IEEE Inter national Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems' in Springfield Massachusetts the next year. Selected papers from that workshop were puhlished as the first volume of this series [21.
Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2
Stapper, C.H. (Editor) / Jain, V.K. (Editor) / Saucier, Gabriele (Editor)
- Softcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 239,65
EUR 14,59 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Paperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 329 pages. 10.00x7.01x0.75 inches. In Stock.
- Softcover
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes KönigreichMispah books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Gebraucht - Wie neu
EUR 234,41
EUR 29,18 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Paperback. Zustand: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
- Softcover
- Print-on-Demand
Anbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItalienBrook Bookstore On Demand
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 126,26
EUR 6,80 VersandVersand von Italien nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: new. Questo è un articolo print on demand.
- Hardcover
- Print-on-Demand
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 160,49
EUR 23,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI systems.…The goals of defect-tolerance and fault-tolerance are yield enhancement and improved reliahility. The emphasis on this area has resulted in a new field of interdisciplinary scientific research. I n fact, advanced methods of defect/fault control and tolerance are resulting in enhanced manufacturahility and productivity of integrated circuit chips, VI.SI systems, and wafer scale integrated circuits. In 1987, Dr. W. Moore organized an 'International Workshop on Designing for Yield' at Oxford University. Edited papers of that workshop were published in reference [II. The participants in that workshop agreed that meetings of this type should he con tinued. preferahly on a yearly hasis. It was Dr. I. Koren who organized the 'IEEE Inter national Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems' in Springfield Massachusetts the next year. Selected papers from that workshop were puhlished as the first volume of this series [21. 334 pp. Englisch.
- Softcover
- Print-on-Demand
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 160,49
EUR 23,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI sy…stems. The goals of defect-tolerance and fault-tolerance are yield enhancement and improved reliahility. The emphasis on this area has resulted in a new field of interdisciplinary scientific research. I n fact, advanced methods of defect/fault control and tolerance are resulting in enhanced manufacturahility and productivity of integrated circuit chips, VI.SI systems, and wafer scale integrated circuits. In 1987, Dr. W. Moore organized an 'International Workshop on Designing for Yield' at Oxford University. Edited papers of that workshop were published in reference [II. The participants in that workshop agreed that meetings of this type should he con tinued. preferahly on a yearly hasis. It was Dr. I. Koren who organized the 'IEEE Inter national Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems' in Springfield Massachusetts the next year. Selected papers from that workshop were puhlished as the first volume of this series [21. 332 pp. Englisch.
- Hardcover
- Print-on-Demand
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 136,16
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Gebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the…design of VLSI and WSI systems. The goals of def.
- Softcover
- Print-on-Demand
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 136,16
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of…VLSI and WSI systems. The goals of def.
Weitere Bilder- Hardcover
- Print-on-Demand
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 141,20
EUR 70,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 5 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems | Volume 2 | C. H. Stapper (u. a.) | Buch | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 1990 | Springer US | EAN 9780306435317 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Heidelberg, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, buchhandel-buch[at]springer[dot]com | Anbieter: p…reigu Print on Demand.
- Hardcover
- Print-on-Demand
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschlandbuchversandmimpf2000
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 160,49
EUR 60,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI systems. The…goals of defect-tolerance and fault-tolerance are yield enhancement and improved reliahility. The emphasis on this area has resulted in a new field of interdisciplinary scientific research. I n fact, advanced methods of defect/fault control and tolerance are resulting in enhanced manufacturahility and productivity of integrated circuit chips, VI.SI systems, and wafer scale integrated circuits. In 1987, Dr. W. Moore organized an 'International Workshop on Designing for Yield' at Oxford University. Edited papers of that workshop were published in reference [II. The participants in that workshop agreed that meetings of this type should he con tinued. preferahly on a yearly hasis. It was Dr. I. Koren who organized the 'IEEE Inter national Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems' in Springfield Massachusetts the next year. Selected papers from that workshop were puhlished as the first volume of this series [21.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 334 pp. Englisch.
- Softcover
- Print-on-Demand
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschlandbuchversandmimpf2000
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 160,49
EUR 60,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI system…s. The goals of defect-tolerance and fault-tolerance are yield enhancement and improved reliahility. The emphasis on this area has resulted in a new field of interdisciplinary scientific research. I n fact, advanced methods of defect/fault control and tolerance are resulting in enhanced manufacturahility and productivity of integrated circuit chips, VI.SI systems, and wafer scale integrated circuits. In 1987, Dr. W. Moore organized an 'International Workshop on Designing for Yield' at Oxford University. Edited papers of that workshop were published in reference [II. The participants in that workshop agreed that meetings of this type should he con tinued. preferahly on a yearly hasis. It was Dr. I. Koren who organized the 'IEEE Inter national Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems' in Springfield Massachusetts the next year. Selected papers from that workshop were puhlished as the first volume of this series [21.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 332 pp. Englisch.
- Hardcover
- Print-on-Demand
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes KönigreichMajestic Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 228,78
EUR 7,59 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 4 verfügbar
Zustand: New. Print on Demand pp. 336 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
- Softcover
- Print-on-Demand
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes KönigreichMajestic Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 230,17
EUR 7,59 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 4 verfügbar
Zustand: New. Print on Demand pp. 332 66:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
- Hardcover
- Print-on-Demand
Anbieter: Biblios, frankfurt am main, HESSE, DeutschlandBiblios
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 227,79
EUR 9,95 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 4 verfügbar
Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 336.
- Softcover
- Print-on-Demand
Anbieter: Biblios, frankfurt am main, HESSE, DeutschlandBiblios
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 229,24
EUR 9,95 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 4 verfügbar
Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 332.
