Wilhelm warta (10 Ergebnisse)
Verlag: Stuttgart, 1985
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2019
Serie: Buch 63 von 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2019
Serie: Buch 63 von 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2019
Serie: Buch 63 von 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2019
Serie: Buch 63 von 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
- Hardcover
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.…

Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2019
Serie: Buch 63 von 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer Verlag, 2019
Serie: Buch 63 von 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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Hardcover. Zustand: Brand New. 3rd edition. 344 pages. 9.25x6.10x1.18 inches. In Stock.

Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2019
Serie: Buch 63 von 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
- Hardcover
- Print-on-Demand
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
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Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Describes an imaging technique for the evaluation of materials and electronic devicesDiscusses various new application fields of lock-in thermographyIs useful as a reference work for researchers and engineers alikeIncludes ext.…

Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2019
Serie: Buch 63 von 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2019
Serie: Buch 63 von 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
- Hardcover
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