9780486450285 - a user's guide to ellipsometry (dover civil and mechanical engineering) von tompkins, harland g. (19 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Dover Publications, 2006
Serie: Buch 37 von 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Sprache: Englisch
Verlag: Dover Publications, 2006
Serie: Buch 37 von 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Verlag: Dover Publications 7/7/2006, 2006
Serie: Buch 37 von 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Paperback or Softback. Zustand: New. A User's Guide to Ellipsometry. Book.
Sprache: Englisch
Verlag: Dover Publications, 2006
Serie: Buch 37 von 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Sprache: Englisch
Verlag: Dover Publications, 2006
Serie: Buch 37 von 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Sprache: Englisch
Verlag: Dover Publications, 2006
Serie: Buch 37 von 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Verlag: Dover Publications Inc., New York, 2006
Serie: Buch 37 von 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Paperback. Zustand: new. Paperback. This text on optics for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. Its 14 case studies illustrate concepts and reinforce applications of ellipsometry - particularly… in relation to the semiconductor industry and to studies involving corrosion and oxide growth.A User's Guide to Ellipsometry will enable readers to move beyond limited turn-key applications of ellipsometers. In addition to its comprehensive discussions of the measurement of film thickness and optical constants in film, it also considers the trajectories of the ellipsometric parameters Del and Psi and how changes in materials affect parameters. This volume also addresses the use of polysilicon, a material commonly employed in the microelectronics industry, and the effects of substrate roughness. Three appendices provide helpful references. Text for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. 1993 edition. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
Sprache: Englisch
Verlag: Dover Pubns, 2006
Serie: Buch 37 von 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Paperback. Zustand: Brand New. 260 pages. 8.25x5.25x0.50 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Dover Publications Inc. 2009-01-01, 2009
Serie: Buch 37 von 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Verlag: Dover Publications, Incorporated, 2006
Serie: Buch 37 von 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Sprache: Englisch
Verlag: Dover Publications, Incorporated, 2006
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Verlag: Dover Publications, 2006
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Verlag: Dover Publications Inc., 2006
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Zustand: New. Inhaltsverzeichnisrnrn1. Theoretical Aspectsn2. Instrumentationn3. Using Optical Parameters to Determine Material Propertiesn4. Determining Optical Parameters for Inaccessible Substrates and Unknown Filmsn5. Extremely Thin Filmsn6. The Spe.
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Sprache: Englisch
Verlag: Dover Publications Jul 2006, 2006
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - This text on optics for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. 14 case studies illustrate concepts and applications. Three appendices provide helpful reference…s. 1993 edition.
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Paperback / softback. Zustand: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
Sprache: Englisch
Verlag: Dover Publications Inc., New York, 2006
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