9780792366867 - defects in sio2 and related dielectrics: science and technology (nato science series ii: mathematics, physics and chemistry, 2, band 2) (14 Ergebnisse)
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Verlag: Springer, 2000
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Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
. Ed(s): Pacchioni, Gianfranco; Skuja, Linards; Griscom, David L.
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Verlag: Kluwer Academic Publishers, 2000
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Zustand: New. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000 Editor(s): Pacchioni, Gianfranco; Skuja, Linards; Griscom, David L. Series: NATO Science Series II. Num Pages: 624 pages, 87 black & white illustrations, biography. BIC Classification: PHK; TGM. Category: (G) General (US: Trade); (P) P…rofessional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 153 x 20. Weight in Grams: 892. . 2000. Softcover reprint of the original 1st ed. 2000. Paperback. . . . .
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Netherlands, Springer, 2000
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly involve point defe…cts, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies. This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy.
Defects in Si02 and Related Dielectrics: Science and Technology
Pacchioni, G. (Editor)/ Skuja, L. (Editor)/ Griscom, D. L. (Editor)
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Pub, 2000
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Paperback. Zustand: Brand New. 632 pages. 9.50x6.50x1.50 inches. In Stock.
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
. Ed(s): Pacchioni, Gianfranco; Skuja, Linards; Griscom, David L.
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 2000
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Zustand: New. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000 Editor(s): Pacchioni, Gianfranco; Skuja, Linards; Griscom, David L. Series: NATO Science Series II. Num Pages: 624 pages, 87 black & white illustrations, biography. BIC Classification: PHK; TGM. Category: (G) General (US: Trade); (P) P…rofessional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 153 x 20. Weight in Grams: 892. . 2000. Softcover reprint of the original 1st ed. 2000. Paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Netherlands, 2000
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Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000 Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and m…edical applications to metal-ox.
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Verlag: Springer Netherlands Dez 2000, 2000
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly in…volve point defects, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies. This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy. 636 pp. Englisch.
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Verlag: Springer, 2000
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology | Gianfranco Pacchioni (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2000 | Springer | EAN 9780792366867 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Netherlands, Haberstr. 7, 69126 Heidelberg, buchhandel-buch[at]springe…r[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Verlag: Springer Netherlands, Springer Dez 2000, 2000
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly involv…e point defects, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies.This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 636 pp. Englisch.
