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nanometer scale defect detection using von dahoo pierre richard (16 Ergebnisse)
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EUR 145,59
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 141,06
Währung umrechnenEUR 17,58 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 8 verfügbar
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NANOMETER-SCALE DEFECT DETECTION USING POLARIZED LIGHT
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 153,44
Währung umrechnenEUR 2,30 für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 4 verfügbar
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NANOMETER-SCALE DEFECT DETECTION USING POLARIZED LIGHT
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 151,01
Währung umrechnenEUR 10,54 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 4 verfügbar
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 146,80
Währung umrechnenEUR 17,58 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 8 verfügbar
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 148,11
Währung umrechnenEUR 17,87 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 8 verfügbar
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EUR 166,43
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.Klappentext.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 158,10
Währung umrechnenEUR 17,87 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 8 verfügbar
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Sprache: Englisch
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 178,56
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In den WarenkorbHardback. Zustand: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days. 618.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems)
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 172,00
Währung umrechnenEUR 15,47 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: New.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 182,25
Währung umrechnenEUR 5,93 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe
EUR 188,91
Währung umrechnenEUR 2,00 für den Versand von Irland nach DeutschlandAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 151,08
Währung umrechnenEUR 65,97 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 233,09
Währung umrechnenEUR 1,94 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 225,98
Währung umrechnenEUR 11,91 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 200 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 214,05
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 200 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.
