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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Anbieter: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardback. Zustand: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.
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In den WarenkorbZustand: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.Klappentext.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Sprache: Englisch
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Anbieter: Rarewaves.com UK, London, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardback. Zustand: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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