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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 711)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 103,22
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 711)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 111,74
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 711)
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science)
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers
Verlag: Springer Nature Singapore, Springer Nature Singapore, 2017
ISBN 10: 9811074690 ISBN 13: 9789811074691
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 113,44
Währung umrechnenEUR 66,24 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.
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Vlsi Design and Test: 21st International Symposium, Vdat 2017, Roorkee, India, June 29-july 2, 2017, Revised Selected Papers
Verlag: Springer-Verlag New York Inc, 2018
ISBN 10: 9811074690 ISBN 13: 9789811074691
Sprache: Englisch
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 160,31
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. revised edition. 840 pages. 9.25x6.10x1.73 inches. In Stock.
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 711)
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 163,82
Währung umrechnenEUR 28,81 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: New. New. book.
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VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 ? July 2, 2017, Revised Selected Papers
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 136,00
Währung umrechnenEUR 7,49 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 4 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand.
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VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 ? July 2, 2017, Revised Selected Papers
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 140,24
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