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COMPOSITIONAL INHOMOGENEITIES IN GaAs1-XPX ALLOY EPITAXIAL LAYERS
Verlag: J Applied Physics, 1968
Anbieter: Larry W Price Books, Portland, OR, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Magazin / Zeitschrift
Pamphlet. Zustand: Very Good. Vol 39, No 13, pp. 5943-5948, Illus, Extracted from orig vol, thus begins with title page, trimmed & stapled pamphlet, else VG.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 36
Anbieter: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. 710 pp., hardcover, ex library, else text and binding clean and tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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FRONTINUS' LEGACY: ESSAYS ON FRONTINUS' DE AQUIS URBIS ROMAE.
Sprache: Englisch
Verlag: University Of Michigan Press, Ann Arbor, 2001
ISBN 10: 0472067931 ISBN 13: 9780472067930
Anbieter: Any Amount of Books, London, Vereinigtes Königreich
Verbandsmitglied: ABA ILAB PBFA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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EUR 23,92
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In den WarenkorbSoft cover. 8vo. pp xi, 170. Large format paperback. ISBN: 0472067931 Fine.
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Frontinus` Legacy Essays on Frontinus` de aquis urbis Romae
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 43,84
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 170 pages. 8.75x6.00x0.50 inches. In Stock.
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A Practical Guide for the Preparation of Specimens for X-Ray Fluorescence and X-Ray Diffraction Analysis
Anbieter: Sunshine State Books, Lithia, FL, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Very Good. Hardback--slight foxing on outer page edge--otherwise, no flaws.
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 36
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New.
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Advances In X - Ray Analysis
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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ADVANCES IN X - RAY ANALYSIS
Anbieter: Basi6 International, Irving, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Zustand: New. Brand New Original US Edition. Customer service! Satisfaction Guaranteed.
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 36
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Advances in X-Ray Analysis: 36
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 57,62
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 35B
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPF. Zustand: New.
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Advances in X-Ray Analysis
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 70,72
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In den WarenkorbZustand: New. pp. 1334.
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Zustand: New. pp. 1334 1st Edition.
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A Practical Guide for the Preparation of Specimens for X-Ray Fluorescence and X-Ray Diffraction Analysis.
Anbieter: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Sehr gut. 331 p., with figures, As library copy in very good condition. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 845.
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Advances in X-Ray Analysis
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New. pp. 1334.
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Zustand: New. pp. 648.
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Zustand: New. pp. 712.
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Advances In X-Ray Analysis
Anbieter: Basi6 International, Irving, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 38
Anbieter: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Very Good. 813 pp., hardcover, minor library markings else text clean & binding tight (lacks dust jacket). - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country. Photos available upon request.
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Internationale AusgabeAdvances In X-Ray Analysis
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be printed on the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 36
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 93,82
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Zustand: New. Brand New, Softcover edition. This item may ship from the US or our Overseas warehouse depending on your location and stock availability.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 35
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 102,08
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 36 | John V. Gilfrich (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2012 | Springer US | EAN 9781461362937 | Verantwortliche Person für die EU: Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, productsafety[at]springernature[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Zustand: New. pp. 932.
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Advances in X-Ray Analysis
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 120,87
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In den WarenkorbZustand: New. pp. 932 68:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 35B
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
