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High-resolution x-ray scattering. From thin films and multilayers.
Buch 59 von 227: Springer Tracts in Modern PhysicsAnbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
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Hardcover. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02760 9783540620297 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 408 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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High-resolution X-ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 2nd edition. 410 pages. 9.00x6.00x1.00 inches. In Stock.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers (Springer Tracts in Modern Physics)
Buch 59 von 227: Springer Tracts in Modern PhysicsAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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High-Resolution X-Ray Scattering
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPAP. Zustand: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other.
