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Zwischen Vergessen und Erinnerung - Stätten des Gedenkens im Altmarkkreis Salzwedel.
Anbieter: KULTur-Antiquariat, Boizenburg, MV, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Gebundene Ausgabe. Zustand: Gut. Pietsch, Jürgen M (illustrator). 96 Seiten, bebildert. Einband leicht berieben, ansonsten gut erhalten. ISBN: 9783000084423 Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 550.
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High-resolution x-ray scattering. From thin films and multilayers.
Buch 59 von 227: Springer Tracts in Modern PhysicsAnbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02760 9783540620297 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050.
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Neuerwerbungen 1974-1979.
Sprache: Deutsch
Verlag: Museum für Kunst- und Kulturgeschichte, Lübeck, 1980
kartonierte Ausgabe. Zustand: Gut. 101 Seiten, schwarz-weiße Abbildungen, Inhaltsverzeichnis, abgekürzt zitierte Literatur, illustrierter Einband Dieser Auswahlkatalog erschien anläßlich der Ausstellung "Neuerwerbungen 1974-1979" im Museum Behnhaus vom 13. Juni bis 20. Juli 1980. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 200.
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High-resolution X-ray scattering. From thin films and lateral nanostructures.
Anbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. 2nd ed. XVI, 408 Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05638 9780387400921 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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![Bild des Verkäufers für Zwischen Erinnerung und Vergessen [Neubuch] Stätten des Gedenkens im Altmarkkreis Salzwedel. Schriften zur Regionalgeschichte. Band 3 zum Verkauf von ANTIQUARIAT Franke BRUDDENBOOKS](https://pictures.abebooks.com/inventory/md/md31296753760.jpg)
Zwischen Erinnerung und Vergessen [Neubuch] Stätten des Gedenkens im Altmarkkreis Salzwedel. Schriften zur Regionalgeschichte. Band 3
Anbieter: ANTIQUARIAT Franke BRUDDENBOOKS, Lübeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe
Gr.-8° Gebundene Ausgabe. Zustand: Neu. Pietsch, Jürgen M (illustrator). 1. Auflage. 96 Seiten Gebundenes Buch. Buch ist neu, aus priv. Vorbesitz. original eingeschweisst. ISBN: 9783000084423 Wir senden umgehend mit beiliegender MwSt.Rechnung. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 561.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 94,21
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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High-resolution X-ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 2nd edition. 410 pages. 9.00x6.00x1.00 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. High-Resolution X-Ray Scattering | From Thin Films to Lateral Nanostructures | Ullrich Pietsch (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9781441923073 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer US Dez 2011, 2011
ISBN 10: 1441923071 ISBN 13: 9781441923073
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 428 pp. Englisch.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 137,94
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Like New. Like New. book.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer US, 2011
ISBN 10: 1441923071 ISBN 13: 9781441923073
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York Aug 2004, 2004
ISBN 10: 0387400923 ISBN 13: 9780387400921
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.
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High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers (Springer Tracts in Modern Physics)
Buch 59 von 227: Springer Tracts in Modern PhysicsAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 249,72
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Ein fein Bergmannig Porcelan: Abbilder vom Bergbau in "Weissem Gold" (Veröffentlichungen aus dem Deutschen Bergbau-Museum)
Anbieter: Antiquariat Kastanienhof, Pirna, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Sehr gut. 28,19 x 22,86 x 2,54 Gebundene Ausgabe, SEHR GUTES EXEMPLAR--- Für Ihre Zufriedenheit versenden wir mit DHL und ausschließlich mit Trackingcode für eine sichere Sendungsverfolgung! Weitere Angebote unter antiquariat-kastanienhof , 365 Seiten. nein.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPAP. Zustand: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
PAP. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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High-Resolution X-Ray Scattering (eng)
Anbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italien
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High-Resolution X-Ray Scattering
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York Dez 2011, 2011
ISBN 10: 1441923071 ISBN 13: 9781441923073
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers. 428 pp. Englisch.
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