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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems Volume 2.
Anbieter: Rivermead Books, Southampton., Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 1 von 5 Sternen
Erstausgabe
EUR 7,03
EUR 23,89 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHard Cover. Zustand: Very Good. No Jacket. First Edition. VG, hardback, maroon glazed board covers with white titles on spine turning purple, contents are clean and unmarked,large octavo 316pp. Ex-Admiralty Underwater Weapons Library. weight 750g. Ex-Library.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems 1992 IEEE International Workshop Proceedings
Verlag: IEEE Computer Society Press, Los Alamos, NM, 1993
ISBN 10: 0818628359 ISBN 13: 9780818628351
Sprache: Englisch
Erstausgabe
Hardcover. Zustand: New. No Jacket. 1st Edition. Black lettering on yellow covers. 8vo, 334pp.
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The IEEE international workshop on Defect & Fault-Tolerance in VLSI Systems, Proceedings, 1995.
Verlag: IEEE Computer Society Press, Los Alamitos, 1995
ISBN 10: 0818671076 ISBN 13: 9780818671074
Sprache: Englisch
Anbieter: Lost and Found Books, Healesville, VIC, Australien
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hard cover. No Jacket. Illustrated in black and white. 305 pages VG. Slight shelf wear to covers, overall very good condition.
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Hardcover. Zustand: Acceptable. Some wear. Satisfaction 100% guaranteed.
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1998 International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Proceedings.
Verlag: Institute of Electrical & Electronics Engineers, New York
ISBN 10: 0818688327 ISBN 13: 9780818688324
Sprache: Englisch
Anbieter: Alien Bindings, BALTIMORE, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe
Softcover. Zustand: Very Good. No Jacket. First Edition. Ex research library book. The rear cover is lightly scuffed. The binding is tight. The interior pages are clean and unmarked. Electronic delivery tracking will be issued free of charge.
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paperback. Zustand: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 1
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 104,56
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 1
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 110,29
EUR 13,63 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 1
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 111,35
EUR 17,62 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 10 verfügbar
In den WarenkorbPF. Zustand: New.
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2000 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems (Dft 2000)
Anbieter: D2D Books, Berkshire, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 117,06
EUR 22,64 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbSoft cover. Zustand: As New. I.E.E.E.Press/ Computer Society 2000 paperback 422 pages full of statistics, minor shelfwear but this is A BRAND NEW BOOK UNUSED. Full refund if not satisfied. 24 hour despatch via Insured for. If not pictured in this listing, a scan of the actual book is available on request.
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Zustand: New. pp. 380.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 159,67
EUR 3,46 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2 (Defect & Fault Tolerance in VLSI Systems)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 160,08
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 1
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 156,50
EUR 14,22 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 374 pages. 9.45x6.61x0.86 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems | Volume 1 | Israel Koren | Taschenbuch | xii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461568018 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 157,16
EUR 13,63 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2 (Defect & Fault Tolerance in VLSI Systems)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 157,16
EUR 13,63 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : Volume 1
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book contains an edited selection of papers presented at the International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems held October 6-7, 1988 in Springfield, Massachusetts. Our thanks go to all the contributors and especially the members of the program committee for the difficult and time-consuming work involved in selecting the papers that were presented in the workshop and reviewing the papers included in this book. Thanks are also due to the IEEE Computer Society (in particular, the Technical Committee on Fault-Tolerant Computing and the Technical Committee on VLSI) and the University of Massachusetts at Amherst for sponsoring the workshop, and to the National Science Foundation for supporting (under grant number MIP-8803418) the keynote address and the distribution of this book to all workshop attendees. The objective of the workshop was to bring t. ogether researchers and practition ers from both industry and academia in the field of defect tolerance and yield en ha. ncement in VLSI to discuss their mutual interests in defect-tolerant architectures and models for integrated circuit defects, faults, and yield. Progress in this area was slowed down by the proprietary nature of yield-related data, and by the lack of appropriate forums for disseminating such information. The goal of this workshop was therefore to provide a forum for a dialogue and exchange of views. A follow-up workshop in October 1989, with C. H. Stapper from IBM and V. K. Jain from the University of South Florida as general co-chairmen, is being organized.
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Zustand: New. pp. 336.
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Zustand: New. pp. 332.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems | Volume 2 | C. H. Stapper (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2013 | Humana | EAN 9781475799590 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems: October 20-22, 1997 Paris, France. Proceedings
Verlag: Institute of Electrical & Electronics Engineers, New York
ISBN 10: 0818681683 ISBN 13: 9780818681684
Sprache: Englisch
Anbieter: Alien Bindings, BALTIMORE, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe
Softcover. Zustand: Very Good. No Jacket. First Edition. Ex research library book. The covers look great. The binding is tight. The interior pages are clean and unmarked. Electronic delivery tracking will be issued free of charge.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : Volume 2
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI systems. The goals of defect-tolerance and fault-tolerance are yield enhancement and improved reliahility. The emphasis on this area has resulted in a new field of interdisciplinary scientific research. I n fact, advanced methods of defect/fault control and tolerance are resulting in enhanced manufacturahility and productivity of integrated circuit chips, VI.SI systems, and wafer scale integrated circuits. In 1987, Dr. W. Moore organized an 'International Workshop on Designing for Yield' at Oxford University. Edited papers of that workshop were published in reference [II. The participants in that workshop agreed that meetings of this type should he con tinued. preferahly on a yearly hasis. It was Dr. I. Koren who organized the 'IEEE Inter national Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems' in Springfield Massachusetts the next year. Selected papers from that workshop were puhlished as the first volume of this series [21.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : Volume 2
Verlag: Springer US, Springer New York, 2013
ISBN 10: 1475799594 ISBN 13: 9781475799590
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI systems. The goals of defect-tolerance and fault-tolerance are yield enhancement and improved reliahility. The emphasis on this area has resulted in a new field of interdisciplinary scientific research. I n fact, advanced methods of defect/fault control and tolerance are resulting in enhanced manufacturahility and productivity of integrated circuit chips, VI.SI systems, and wafer scale integrated circuits. In 1987, Dr. W. Moore organized an 'International Workshop on Designing for Yield' at Oxford University. Edited papers of that workshop were published in reference [II. The participants in that workshop agreed that meetings of this type should he con tinued. preferahly on a yearly hasis. It was Dr. I. Koren who organized the 'IEEE Inter national Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems' in Springfield Massachusetts the next year. Selected papers from that workshop were puhlished as the first volume of this series [21.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 236,75
EUR 14,22 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 329 pages. 10.00x7.01x0.75 inches. In Stock.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 223,80
EUR 28,44 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Like New. Like New. book.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Verlag: Springer, Springer Jun 2012, 2012
ISBN 10: 1461568013 ISBN 13: 9781461568018
Sprache: Englisch
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book contains an edited selection of papers presented at the International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems held October 6-7, 1988 in Springfield, Massachusetts. Our thanks go to all the contributors and especially the members of the program committee for the difficult and time-consuming work involved in selecting the papers that were presented in the workshop and reviewing the papers included in this book. Thanks are also due to the IEEE Computer Society (in particular, the Technical Committee on Fault-Tolerant Computing and the Technical Committee on VLSI) and the University of Massachusetts at Amherst for sponsoring the workshop, and to the National Science Foundation for supporting (under grant number MIP-8803418) the keynote address and the distribution of this book to all workshop attendees. The objective of the workshop was to bring t. ogether researchers and practition ers from both industry and academia in the field of defect tolerance and yield en ha. ncement in VLSI to discuss their mutual interests in defect-tolerant architectures and models for integrated circuit defects, faults, and yield. Progress in this area was slowed down by the proprietary nature of yield-related data, and by the lack of appropriate forums for disseminating such information. The goal of this workshop was therefore to provide a forum for a dialogue and exchange of views. A follow-up workshop in October 1989, with C. H. Stapper from IBM and V. K. Jain from the University of South Florida as general co-chairmen, is being organized. 380 pp. Englisch.
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EUR 92,27
EUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 1
Verlag: Springer-Verlag New York Inc., 2012
ISBN 10: 1461568013 ISBN 13: 9781461568018
Sprache: Englisch
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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EUR 135,44
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In den WarenkorbPaperback / softback. Zustand: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 751.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand pp. 380 66:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
