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System on Chip: Next Generation Electronics (Volume 18)
Sprache: Englisch
Verlag: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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System-on-Chip: Next Generation Electronics (Volume 18)
Sprache: Englisch
Verlag: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
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System on Chip: Next Generation Electronics (Volume 18)
Sprache: Englisch
Verlag: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
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System-level Design Techniques For Energy-efficient Embedded Systems
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
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Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Peak Pearl LLC, Holly Springs, NC, USA
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Hardcover. Zustand: As New. Like new, never been used.
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System on Chip : Next Generation Electronics
Verlag: The Institution of Electrical Engineers, London, 2006
Anbieter: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Vereinigtes Königreich
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Zustand: Used. pp. 220.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: Used. pp. 220 Illus.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Zustand: Used. pp. 220.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Zustand: New.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Zustand: New.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Internationale AusgabeSYSTEM-ON-CHIP: NEXT GENERATION ELECTRONICS
Anbieter: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Vereinigtes Königreich
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System-on-Chip : Next Generation Electronics
Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Zustand: New. pp. 214.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic TestingSprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 2003
ISBN 10: 140207235X ISBN 13: 9781402072352
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
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Zustand: New. Focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. This text surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 189 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 297 x 210 x 12. Weight in Grams: 990. . 2003. Hardback. . . . .
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Many-core Computing : Hardware and Software
Buch 9 von 16: Computing and NetworksSprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2019
ISBN 10: 1785615823 ISBN 13: 9781785615825
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Many-Core Computing: Hardware and software (Computing and Networks)
Buch 9 von 16: Computing and NetworksSprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2019
ISBN 10: 1785615823 ISBN 13: 9781785615825
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Many-core Computing : Hardware and Software
Buch 9 von 16: Computing and NetworksSprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2019
ISBN 10: 1785615823 ISBN 13: 9781785615825
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 136,07
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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System-on-Chip: Next generation electronics (Materials, Circuits and Devices)
Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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System-on-Chip : Next Generation Electronics
Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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System-on-Chip : Next Generation Electronics
Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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