Bashir m al hashimi (108 Ergebnisse)
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2003
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Nicolici, Nicola (McMaster University, Hamilton, Ontario, Canada); Al-Hashimi, Bashir M.
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 2003
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Zustand: New. Focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. This text surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 189 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 297 x 210 x 12. Weight in Grams: 990. . 2003. Hardback. . . . .…
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Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2006
- Hardcover
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Zustand: New.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2003
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer US, 2003
- Hardcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
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Gebunden. Zustand: New. This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for redu.
Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2019
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2019
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2019
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