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Spacer Engineered FinFET Architectures: High-Performance Digital Circuit Applications
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Spacer Engineered FinFET Architectures: High-Performance Digital Circuit Applications
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 ? July 2, 2017, Revised Selected Papers: 711 (Communications in Computer and Information Science, 711)
Anbieter: Bahamut Media, Reading, Vereinigtes Königreich
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 â" July 2, 2017, Revised Selected Papers: 711 (Communications in Computer and Information Science, 711)
Anbieter: AwesomeBooks, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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In den Warenkorbpaperback. Zustand: Very Good. VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 â" July 2, 2017, Revised Selected Papers: 711 (Communications in Computer and Information Science, 711) This book is in very good condition and will be shipped within 24 hours of ordering. The cover may have some limited signs of wear but the pages are clean, intact and the spine remains undamaged. This book has clearly been well maintained and looked after thus far. Money back guarantee if you are not satisfied. See all our books here, order more than 1 book and get discounted shipping. .
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VLSI Design and Test
Verlag: Springer Nature Singapore, Springer Nature Singapore Dez 2017, 2017
ISBN 10: 9811074690 ISBN 13: 9789811074691
Sprache: Englisch
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017.The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 840 pp. Englisch.
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VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers
Verlag: Springer Nature Singapore, Springer Nature Singapore, 2017
ISBN 10: 9811074690 ISBN 13: 9789811074691
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 113,44
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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 711)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science)
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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Spacer Engineered FinFET Architectures High-Performance Digital Circuit Applications
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Spacer Engineered FinFET Architectures High-Performance Digital Circuit Applications
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 711)
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 711)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
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Vlsi Design and Test: 21st International Symposium, Vdat 2017, Roorkee, India, June 29-july 2, 2017, Revised Selected Papers
Verlag: Springer-Verlag New York Inc, 2018
ISBN 10: 9811074690 ISBN 13: 9789811074691
Sprache: Englisch
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 July 2, 2017, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 711)
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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Spacer Engineered FinFET Architectures: High-Performance Digital Circuit Applications
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Spacer Engineered Finfet Architectures: High-performance Digital Circuit Applications
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 138 pages. 9.50x6.50x0.55 inches. In Stock.
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Spacer Engineered FinFET Architectures: High-Performance Digital Circuit Applications
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbKartoniert / Broschiert. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and .
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VLSI Design and Test
Verlag: Springer Nature Singapore Dez 2017, 2017
ISBN 10: 9811074690 ISBN 13: 9789811074691
Sprache: Englisch
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 ? July 2, 2017, Revised Selected Papers
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VLSI Design and Test : 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 ? July 2, 2017, Revised Selected Papers
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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