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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Anbieter: Patrico Books, Apollo Beach, FL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: As New. 2nd. Ships Out Tomorrow!
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Anbieter: Solr Books, Lincolnwood, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
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hardcover. Zustand: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Anbieter: Patrico Books, Apollo Beach, FL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: As New. Ships Out Tomorrow!
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hardcover. Zustand: Very Good. Connecting readers with great books since 1972! Used books may not include companion materials, and may have some shelf wear or limited writing. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Thermal And Power Management of Integrated Circuits
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 103,18
EUR 2,28 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Zustand: New. SUPER FAST SHIPPING.
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Zustand: New. SUPER FAST SHIPPING.
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 103,44
EUR 3,45 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 103,77
EUR 3,45 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 110,50
EUR 13,65 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Thermal And Power Management of Integrated Circuits
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 110,49
EUR 17,10 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Zustand: New. pp. 192.
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits (Integrated Circuits and Systems)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 133,98
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Thermal and Power Management of Integrated Circuits | Manoj Sachdev (u. a.) | Taschenbuch | x | Englisch | 2010 | Springer US | EAN 9781441938329 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 157,46
EUR 13,65 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 157,46
EUR 13,65 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 167,97
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In den WarenkorbZustand: New.
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EUR 118,64
EUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Covers the latest research that has been carried on in the area of thermal and power management of integrated circuits with emphasis on performance and reliability of ICs at system and circuit levelNo book provides cohesive treatment of the materi.
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Zustand: New. pp. 352 2nd Edition.
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 157,45
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Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In Thermal and Power Management of Integrated Circuits, power and thermal management issues in integrated circuits during normal operating conditions and stress operating conditions are addressed. Thermal management in VLSI circuits is becoming an integral part of the design, test, and manufacturing. Proper thermal management is the key to achieve high performance, quality and reliability. Performance and reliability of integrated circuits are strong functions of the junction temperature. A small increase in junction temperature may result in significant reduction in the device lifetime.This book reviews the significance of the junction temperature as a reliability measure under nominal and burn-in conditions. The latest research in the area of electro-thermal modeling of integrated circuits will also be presented. Recent models and associated CAD tools are covered and various techniques at the circuit and system levels are reviewed. Subsequently, the authors provide an insight into the concept of thermal runaway and how it may best be avoided. A section on low temperature operation of integrated circuits concludes the book.
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Hardcover. Zustand: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 169,20
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ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 169,20
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Zustand: New. SUPER FAST SHIPPING.
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